モジュール化によってカスタマイズが容易に

各種計測システム分野のノウハウを素にした基本IP(Intellectual Property)と基本モジュール群をベースにカスタマイズして提供いたします。

メモリテスタ基本機能モジュール

FT Exerciser:ファンクションテスト機能モジュール

  • チップセット
    1. ファンクションテストパターン発生機能とタイミング発生機能群
    2. 波形形成機能群
    3. 不良検出機能群
  • ワンチップ
    1. 各種テスト機能モジュールの集合体

DC Exerciser:電圧/電流テスト機能モジュール
BS Exerciser:DUT(Device Under Test) 電源用途機能モジュール
アクセサリー:パフォーマンスボード類

tester

  • ALPG(Algorithmic Pattern Generator) / TG(Timing Generator) :メモリテストパターン発生/タイミング発生ユニット
  • Formatter (Wave Formatter): DUT印加波形整形ユニット
  • NG Detector: DUT 良品 / 不良品 判定ユニット
  • ADC :各種電圧測定デジタル値表示ユニット
  • PMU(Parametric Measurement Unit):電圧 / 電流測定ユニット
  • Pin Driver/Comp :DUT入出力信号印加 / 判定ユニット
  • DPS(Device Power Supply):DUT電源ユニット
  • Relay :各種ユニットの接続 / 切離し機能

[ベーシックテスタ 参考機能例]

  • FT-Exerciser 試料用ファンクションテスト・モジュール
  • チップセット及びワンチップ構成
    33MHz / 50MHz / 66MHz / 83MHz / 100MHz
    D-RAM / F-RAM /NAND /F-RAM / Re-RAM M-RAM / ASM 用途
    [注意] ドライバー / コンパレータ に関して適宜なものを搭載下さい
  • DC-Exerciser 電流電圧測定モジュール
    IF:±2uA〜 ±20mA VF:0V〜±4V
    IM:±2uA〜 ±20mA VM:0V〜 ±4V
  • BS-Exerciser 試料用電源モジュール
    VF:0V〜±30V[200mA / 500mA / 1A]
  • アクセサリー・モジュール類
    自己診断 / パフォーマンスボード類 / 周辺機器制御 等


ベーシックテスタユニットの受諾開発

各種計測システム分野のノウハウを素にした基本IP(Intellectual Property)と基本モジュール群をベースにカスタマイズして提供いたします。

高性能モジュール化によって大幅なサイズダウンが可能に

ベーシックテスタの大きなメリットの一つは、そのサイズです。約40cm四方のボード1枚で構成され、その性能は旧テスター「Minato Model 9500/16」に比較して16倍の性能を持ちます。ボードで提供されるため、複数セットの場合は、さらに性能対サイズの効率が高まります。

hikaku

ベーシックテスタがもたらす大幅コストダウン

エルフィノート・テクノロジーのベーシックテスタは、基本モジュール群を組み合わせてカスタマイズする仕様のため、大幅なコストダウンが可能になりました。DUTの仕様の変化に合わせたシステムの更新も容易に可能なため、長期的にはさらに省コストな運用が可能になります。

エルフィノート・テクノロジー株式会社